半導体テストポゴピン

半導体テストポゴピン

半導体ウェーハが製造プロセスを完了した後、各チップは機能的にテストされる必要があり、バックエンドでのパッケージングを避けるために、認定されていないチップにマークが付けられます。 この種のテストでは、チップからプローブカードプローブテストコネクタ、回路基板、自動テストマシンまで、一連の接続を介して信号を送信する必要があります。ポゴピンテストコネクタ（プローブタワー）は中央の重要な部分です。セクション、正確で安定したチップテスト結果を達成するために安定した信号伝送を保証するため。 チップがより洗練され、より多くの機能を持つようになるにつれて、テストの要件はますます高くなっています。 既存のポゴピンテストコネクタは、複数の機能と複数の出力を備えたチップのテストに対応できなくなりました。

同時に、既存の半導体テストコネクタは3,000ピン以下の半導体テストポゴピンしか使用せず、適用範囲には多くの制限があります。

半導体スプリングテストポゴピニのコアテクノロジーは、微細加工装置、経験、および加工能力を含む微細加工および組み立ての能力です。

テストポゴピンのバネは、テストプローブの耐用年数の重要な要素です。 電気メッキばねは耐用年数が長く、錆びることがなく、テストプローブの耐久性と導電性を向上させることもできます。

人気ラベル: 半導体テストポゴピン、中国、サプライヤー、メーカー、工場、カスタマイズ、卸売、購入、バルク、在庫あり、無料サンプル