バネ仕掛けの接触ポゴピンプローブ

バネ仕掛けの接触ポゴピンプローブ

テストプローブピンが開示されている。

試験プローブは複数のプローブを有し、各プローブは導電性ポリマーのナノフィルムでコーティングされたプローブ先端表面を有し、ナノフィルムの厚さは約１〜２０ｎｍである。

ナノフィルムでコーティングされたプローブは、ICコンポーネントをテストするためのテストフィクスチャに取り付けられているため、プローブは優れた無洗浄特性と安定した導電性を効率的に提供して、プローブの洗浄頻度を下げ、ICの歩留まりを向上させることができます。コンポーネントテスト、テストフィクスチャの使用率の向上、総テストコストの削減、テストプローブの使用寿命の延長、およびプローブ材料のコストの削減。

このように、導電性高分子のナノフィルムにより、金属材料で作られたプローブは、元の厚さの5分の1の金層をめっきするだけで、従来のプローブとほぼ同じ導電性を提供できます。プローブ材料全体を減らすことができます。

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